方塊電阻測試儀-四探針法功能說明
發布時間： 2021-04-28 14:35:24 點擊： 2761
方塊電阻的計算方法
方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數值大小可直接換算為熱紅外輻射率。
方塊電阻的計算方法：
方塊電阻：Rs=ρ/t(其中ρ為塊材的電阻率,t為塊材厚度）
或者寫成電導率的表達式：Rs = 1/(σt)
這樣 在計算塊材電阻的時候，我們就可以利用方塊電阻乘以長寬比例得到，計算過程與維度無關：
R=Rs*L/W(L為塊材長度，W為塊材寬度）
方塊電阻測試儀是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、 ITO 導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。大顯示屏，直觀度數，穩定性好，可以外接其他控制單元，與其他系統集成使用；適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜等。
方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。
由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電均不相同，因此測試儀可為用戶量身定制各種定探針壓力及曲率半徑的探針頭，，測試電壓和測試電均可連續調節，給薄膜、涂層的研制者提供了個摸索測試條件的寬闊空間。
由于儀器設有恒源開關，并且所有電檔在探針與樣品接觸后均有電接通的功能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞
方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數值大小可直接換算為熱紅外輻射率。
方塊電阻的計算方法：
方塊電阻：Rs=ρ/t(其中ρ為塊材的電阻率,t為塊材厚度）
或者寫成電導率的表達式：Rs = 1/(σt)
這樣 在計算塊材電阻的時候，我們就可以利用方塊電阻乘以長寬比例得到，計算過程與維度無關：
R=Rs*L/W(L為塊材長度，W為塊材寬度）
方塊電阻測試儀是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、 ITO 導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。大顯示屏，直觀度數，穩定性好，可以外接其他控制單元，與其他系統集成使用；適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜等。
方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。
由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電均不相同，因此測試儀可為用戶量身定制各種定探針壓力及曲率半徑的探針頭，，測試電壓和測試電均可連續調節，給薄膜、涂層的研制者提供了個摸索測試條件的寬闊空間。
由于儀器設有恒源開關，并且所有電檔在探針與樣品接觸后均有電接通的功能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞
上一頁：堆積密度測定儀注意事項
下一頁：ROOKO瑞柯微產銷
