雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀
發(fā)布時(shí)間： 2023-06-13 14:11:20 點(diǎn)擊： 575
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)-改進(jìn)形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高正確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。
主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入；具有零位、滿度自校功能；測(cè)試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式；儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成，也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上獨(dú)立操作完成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示，也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
四探針測(cè)試儀是一種用于測(cè)量金屬材料電學(xué)性質(zhì)的儀器，其采用了四電極測(cè)量方式，相比傳統(tǒng)的兩電極或三電極測(cè)試儀具有更高的精度和穩(wěn)定性，在材料科學(xué)和研究領(lǐng)域擁有廣泛的應(yīng)用。
一、四探針測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)
四探針測(cè)試儀主要由四個(gè)探針、樣品臺(tái)、測(cè)量?jī)x器和控制系統(tǒng)等部分組成。其中，探針分別對(duì)應(yīng)著電流探針、兩個(gè)間隔的A、B探針和電壓探針，樣品臺(tái)則是進(jìn)行測(cè)量的基本位置，儀器會(huì)通過控制系統(tǒng)產(chǎn)生所需的電壓和電流信號(hào)，并記錄下經(jīng)過樣品的電阻、電導(dǎo)和Sheet阻值等參數(shù)。
二、四探針測(cè)試儀的工作原理
四探針測(cè)試儀工作原理基于四探針法，即通過四根探針分別接觸樣品，從而將橫向電流和垂直電流分離開來，在去除基本電阻和電流傳輸阻抗的影響下，得到準(zhǔn)確的樣品電阻值。此方法能夠消除電極接觸電阻和樣品表面膜層表觀電阻的影響，使得實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)精確度大幅提高。
三、四探針測(cè)試儀的應(yīng)用范圍
四探針測(cè)試儀在材料性能研究和質(zhì)量檢測(cè)中擁有廣泛的應(yīng)用。它可以被用來測(cè)量金屬、半導(dǎo)體、陶瓷等材料電學(xué)參數(shù)，例如材料的Sheet阻值，電阻率和電導(dǎo)率等，同時(shí)還可以應(yīng)用于磁性材料、液晶材料、電解質(zhì)等領(lǐng)域的研究和開發(fā)。
四、總結(jié)
總之，四探針測(cè)試儀作為一種高精度可靠的電學(xué)測(cè)試儀器，能夠準(zhǔn)確測(cè)量材料的電學(xué)性能參數(shù)，使得人們對(duì)材料的電學(xué)性質(zhì)和材料特性有了更深入的認(rèn)識(shí)。隨著科技的不斷發(fā)展，四探針測(cè)試儀將會(huì)變得更加智能化、便捷化，為材料科學(xué)領(lǐng)域研究和工業(yè)發(fā)展帶來更便利的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)支持。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。
主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入；具有零位、滿度自校功能；測(cè)試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式；儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成，也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上獨(dú)立操作完成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示，也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
四探針測(cè)試儀是一種用于測(cè)量金屬材料電學(xué)性質(zhì)的儀器，其采用了四電極測(cè)量方式，相比傳統(tǒng)的兩電極或三電極測(cè)試儀具有更高的精度和穩(wěn)定性，在材料科學(xué)和研究領(lǐng)域擁有廣泛的應(yīng)用。
一、四探針測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)
四探針測(cè)試儀主要由四個(gè)探針、樣品臺(tái)、測(cè)量?jī)x器和控制系統(tǒng)等部分組成。其中，探針分別對(duì)應(yīng)著電流探針、兩個(gè)間隔的A、B探針和電壓探針，樣品臺(tái)則是進(jìn)行測(cè)量的基本位置，儀器會(huì)通過控制系統(tǒng)產(chǎn)生所需的電壓和電流信號(hào)，并記錄下經(jīng)過樣品的電阻、電導(dǎo)和Sheet阻值等參數(shù)。
二、四探針測(cè)試儀的工作原理
四探針測(cè)試儀工作原理基于四探針法，即通過四根探針分別接觸樣品，從而將橫向電流和垂直電流分離開來，在去除基本電阻和電流傳輸阻抗的影響下，得到準(zhǔn)確的樣品電阻值。此方法能夠消除電極接觸電阻和樣品表面膜層表觀電阻的影響，使得實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)精確度大幅提高。
三、四探針測(cè)試儀的應(yīng)用范圍
四探針測(cè)試儀在材料性能研究和質(zhì)量檢測(cè)中擁有廣泛的應(yīng)用。它可以被用來測(cè)量金屬、半導(dǎo)體、陶瓷等材料電學(xué)參數(shù)，例如材料的Sheet阻值，電阻率和電導(dǎo)率等，同時(shí)還可以應(yīng)用于磁性材料、液晶材料、電解質(zhì)等領(lǐng)域的研究和開發(fā)。
四、總結(jié)
總之，四探針測(cè)試儀作為一種高精度可靠的電學(xué)測(cè)試儀器，能夠準(zhǔn)確測(cè)量材料的電學(xué)性能參數(shù)，使得人們對(duì)材料的電學(xué)性質(zhì)和材料特性有了更深入的認(rèn)識(shí)。隨著科技的不斷發(fā)展，四探針測(cè)試儀將會(huì)變得更加智能化、便捷化，為材料科學(xué)領(lǐng)域研究和工業(yè)發(fā)展帶來更便利的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)支持。
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